Pattern classification
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
New York
John Wiley
2000
|
| Wydanie: | 2nd ed. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: General stacks
| Sygnatura: |
006.4 D844e2 |
|---|---|
| Egzemplarz 1 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 3 | Checked out – do: 05-31-2012 23:59 Odwołaj |
| Egzemplarz 4 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 5 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 7 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 8 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 9 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 10 | Dostępne Zamów |
MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: Reference
| Sygnatura: |
006.4 D844e2 |
|---|---|
| Egzemplarz 2 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 6 | Dostępne Zamów |